非传统工艺的半导体陶瓷(摘要)

中国科学院半导体研究所  梁骏吾

同济大学 电子信息学院   闻瑞梅

陶瓷科学在发展中与半导体科学相遇而相互渗透。当半导体科学发展到宽带隙半导体之时,这种渗透特别明显。宽带隙半导体包括氧化物半导体、Ⅲ族氮化物半导体、碳化硅等第三代半导体材料。这些半导体材料正好是光敏、气敏、电压敏、热敏等功能陶瓷的核心。也是光电材料本身以及其外延生长的衬底。

以用于陶瓷工业的SnO2为例。SnO2 和In2O3, ZnO等缺陷半导体一样,含有较多氧空位(V0),,其能级为EC-114 meV, 而Sn间隙(ISn) 的能级为EC + 0.203。这样,SnO2呈n型电导。由于吸附氧化或还原性气体分子引起表面能带弯曲,结果使材料的电导增大或减少。所以SnO2用为制造陶瓷气敏传感器。利用的是表面性质。SnO2,  In2O3, ZnO等在太阳电池,TFT等器件中用为透明导电电极。这是利用它们的体半导体性质,例如;由于SnO2带隙为3.6eV,所以在0.4-1.5um波段透明,又含有V0和 ISn,所以同时又具有低到5×10-5Ω-cm的导电率。

      In2O3 掺SnO2后称为ITO膜。广泛用于光电子器件。其制备方法有: 反应溅射沉积,磁控溅射,电子束沉积,氧等离子体辅助MBE,脉冲激光沉积 等。特别值得一提的 是ITO膜也可用丝网印刷方法制备。以上都是非传统的生产工艺。

SnO2,ZnO和In2O3膜能制造反射红外光的窗玻璃。这是由于红外光的频率低,而低于“plasma edge”频率的光被反射,所以这些窗玻璃能保温、节约能量。

宽带隙半导体(Al, Ga, In)N作为兰光、绿光、紫外LED,探测器和激光器取得了极大的发展,这些材料用MOCVD或MBE方法生长。大量使用蓝宝石(α-Al2O3)衬底,它在170nm(紫外)—5.3um(红外)波段透明,是极好的窗口。随后用SiC单晶衬底,以后GaN和AlN单晶衬底材料也得到发展。

α-Al2O3生长方法很多。半导体工业用直拉法生和Kyropoulos法生长。单晶工艺成熟,价格低,工业上大量应用,生长的晶体直径300mm 重量已达100Kg。高质量的蓝宝石单晶也是Si 上生长SOS 外延材料的衬底。α-Al2O3还可以直接生长成带状,例如用String ribbon法生长Al2O3 带状晶体,可以省去切割晶锭工艺,节约材料,但完整性较差。α-Al2O3 虽然与GaN有高达13.8%的失配,但通过外延工艺改进,例如生长低温缓冲层,能提高GaN基材料外延层质量。

进一步提高GaN基材料外延层质量,最好使用SiC,AlN或GaN单晶衬底,因为晶格匹配更好。 AlN比Al2O3的熔点高,蒸气压大,所以不能采取熔体生长。成功的方法有“升华—再结晶”法。生长温度在2273℃附近,即将AlN粉放在坩埚底,坩埚顶放籽晶,维持适当温度差,在氮气气氛下生长单晶。

h-SiC也采取“升华—再结晶”方法(Lely法)生长: 多晶SiC源温为2400℃,生长区SiC籽晶温度为2200℃,在Ar气氛中,压力为0.013-13Pa。可以生长p型和n型和半绝缘SiC,也可生长6H,4H和2H-SiC结构材料。但目前价格高。

    SiC和AlN都有很好的导热性,是各种微电子、光电子器件的优良衬底。

GaN与GaN外延层完全配合,所以生长GaN单晶是困难而又重要的课题。波兰科学家在1600oC, 15-20kbar气压下,直接用Ga和N2合成GaN。但是这个条件太苛刻。要寻找更方便的方法。HVPE方法是成功的方法。即用HCl , NH3, Ga在N2气氛中外延,生长速率十分高(高达100um/h),可以生长低缺陷的单晶锭,这样省却了高压生长设备的投资。HVPE已经形成工业生产。

    总之,学科间的渗透和交融已经形成许多新的学科生长点,并且将更快地促进材料和其它学科的发展。